显示面板、像素驱动电路及其劣化侦测方法与流程-k8凯发

文档序号:37022015发布日期:2024-02-09 13:16阅读:63来源:国知局
显示面板、像素驱动电路及其劣化侦测方法与流程

本申请涉及显示,具体涉及一种显示面板、像素驱动电路及其劣化侦测方法。


背景技术:

1、随着显示技术的不断发展和完善,人们不断追求更高画质的显示方式,有源主动驱动式有机发光二极管(amoled)显示器应运而生。为了提升产能并降低产品成本,使显示面板更适合制作窄边框或无边框的显示产品,goa技术(gate driver on array)常应用在amoled显示面板中,替代外接集成电路板(integrated circuit,ic)来完成水平扫描线的驱动。

2、oled随着显示时间的增加,会出现劣化现象。由于oled劣化现象的存在,子像素的发光强度无法精确控制,会导致显示画面的亮度降低、残影、色偏等显示画面劣化现象。因此,必须测量各子像素中oled的劣化程度,并基于量测值调制数字图像数据。

3、oled的劣化特性是随着时间增加,oled的工作点电压增大,并且效率减小,测量oled工作时的电流或电压是侦测oled劣化程度的常用手段。对于常见的3t1c像素驱动电路,常采用的方法是控制驱动晶体管栅极电压恒定,在oled稳定工作时打开侦测晶体管通过外部芯片量测oled阳极电压,利用oled稳定工作电压和电流存在差异判断oled的劣化程度。然而,采用这种方法需要两种时序不同的水平扫描信号分别控制电压侦测和数据写入;而双扫描信号驱动的面板中goa电路尺寸将会变大,不利于制作窄边框或无边框产品。


技术实现思路

1、本申请提供一种显示面板、像素驱动电路及其劣化侦测方法,能够对发光器件进行劣化侦测的同时还能够减小驱动的面板中goa电路尺寸。

2、本申请提供了一种像素驱动电路,包括发光器件、驱动晶体管、数据写入晶体管、侦测模块和侦测控制模块;发光器件串联在第一电源线和第二电源线之间形成发光回路;驱动晶体管的漏极与第二电源线连接,驱动晶体管的源极与发光器件的阳极连接;数据写入晶体管的栅极与扫描线连接,数据写入晶体管的漏极与数据线连接,数据写入晶体管的源极与驱动晶体管的栅极连接;数据写入晶体管根据扫描信号写入数据信号;侦测模块与驱动晶体管的源极、扫描线和侦测线连接;侦测模块根据扫描信号侦测驱动晶体管的源极电位;侦测控制模块与第一电源线、驱动晶体管的源极或漏极和侦测线连接;侦测控制模块根据第一电源线控制驱动晶体管的源极电位;侦测线通过第一开关与复位线连接,并通过第二开关与外部采样模块连接。

3、在一些实施例中的像素驱动电路,侦测模块包括第一晶体管和第二晶体管,第一晶体管的栅极与扫描线连接,第一晶体管的漏极与第二晶体管的漏极连接,第一晶体管的源极与驱动晶体管的源极连接,第二晶体管的栅极与第二晶体管的漏极短接,第二晶体管的源极与侦测线连接。

4、在一些实施例中的像素驱动电路,侦测控制模块包括第三晶体管,第三晶体管的栅极与第一电源线连接,第三晶体管的漏极与侦测线连接,第三晶体管的源极与驱动晶体管的源极连接。

5、本申请实施例还提供了一种像素驱动电路的劣化侦测方法,该劣化侦测方法应用于上述像素驱动电路中,劣化侦测方法通过在电压抬升阶段,由扫描信号控制数据写入晶体管写入数据信号,并由扫描信号控制侦测模块与侦测线断开,由第一电源线提供的第一电源信号控制侦测控制模块与侦测线断开,使得发光回路导通以抬升驱动晶体管的源极电位至第一目标电位;在复位阶段,导通第一开关,由第一电源信号控制侦测控制模块根据复位信号复位驱动晶体管的源极电位;在采样阶段,断开第一开关,由第一电源信号控制侦测控制模块根据驱动晶体管的源极电位向侦测线充电,并在预设时间后导通第二开关以获取侦测线的电位。

6、在一些实施例中的像素驱动电路的劣化侦测方法,劣化侦测方法还通过在初始化阶段,导通第一开关并断开第二开关,由扫描信号控制数据写入晶体管写入数据信号,并由第一电源信号控制侦测控制模块根据复位信号初始化驱动晶体管的源极电位。

7、在一些实施例中的像素驱动电路的劣化侦测方法,在初始化阶段,第一电源信号的电平电压大于复位信号的电平电压。

8、本申请实施例还提供了一种像素驱动电路的阈值侦测方法,该阈值侦测方法应用于上述像素驱动电路中,阈值侦测方法通过由扫描信号控制数据写入晶体管写入数据信号,并导通第一开关,由侦测控制模块根据复位信号复位驱动晶体管的源极电位;断开第一开关,由第二电源信号为驱动晶体管的源极充电至第二目标电位;导通第二开关,通过侦测线获取驱动晶体管的源极电位。

9、本申请实施例还提供了一种像素驱动电路的阈值侦测方法,该阈值侦测方法应用于上述像素驱动电路中,阈值侦测方法通过由扫描信号控制数据写入晶体管和第一晶体管导通,并降低第二电源信号的电平电压至目标电压,使得第二晶体管导通,并由驱动晶体管的源极通过第二晶体管为侦测线充电至第三目标电位;导通第二开关以获取侦测线的电位。

10、在一些实施例中的像素驱动电路的阈值侦测方法,降低第二电源信号的电平电压至目标电压具体包括:降低第二电源信号的电平电压,使得电源信号的电平电压小于数据写入晶体管写入的数据信号的电平电压。

11、本申请实施例还提供了一种显示面板,该显示面板包括上述的像素驱动电路。

12、本申请提供的一种显示面板、像素驱动电路及其劣化侦测方法,其中,本申请的像素驱动电路中数据晶体管和侦测模块共用一个扫描线,由一个扫描信号同时控制数据晶体管和侦测模块来实现数据的写入和侦测模块的侦测功能,相对于利用两根扫描线分别控制数据晶体管和侦测模块来完成电压侦测和数据写入而言,采用单扫描信号能够减小驱动的面板中goa电路的尺寸,从而有利于制作窄边款或无边框产品。



技术特征:

1.一种像素驱动电路,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的像素驱动电路,其特征在于,所述侦测模块包括第一晶体管和第二晶体管,所述第一晶体管的栅极与所述扫描线连接,所述第一晶体管的漏极与所述第二晶体管的漏极连接,所述第一晶体管的源极与所述驱动晶体管的源极连接,所述第二晶体管的栅极与所述第二晶体管的漏极短接,所述第二晶体管的源极与所述侦测线连接。

3.根据权利要求1所述的像素驱动电路,其特征在于,所述侦测控制模块包括第三晶体管,所述第三晶体管的栅极与所述第一电源线连接,所述第三晶体管的漏极与所述侦测线连接,所述第三晶体管的源极与所述驱动晶体管的源极连接。

4.一种像素驱动电路的劣化侦测方法,其特征在于,应用于如权利要求1-3任一项所述像素驱动电路中,所述劣化侦测方法包括:

5.根据权利要求4所述的像素驱动电路的劣化侦测方法,其特征在于,所述劣化侦测方法还包括:

6.根据权利要求5所述的像素驱动电路,其特征在于,在所述初始化阶段,所述第一电源信号的电平电压大于所述复位信号的电平电压。

7.一种像素驱动电路的阈值侦测方法,其特征在于,应用于如权利要求1-3任一项所述像素驱动电路中,所述阈值侦测方法包括:

8.一种像素驱动电路的阈值侦测方法,其特征在于,应用于如权利要求2所述像素驱动电路中,所述阈值侦测方法包括:

9.根据权利要求8所述的像素驱动电路的阈值侦测方法,其特征在于,所述降低第二电源信号的电平电压至目标电压具体包括:降低所述第二电源信号的电平电压,使得所述电源信号的电平电压小于所述数据写入晶体管写入的所述数据信号的电平电压。

10.一种显示面板,其特征在于,包括如权利要求1-3任一项所述的像素驱动电路。


技术总结
本申请公开了一种显示面板、像素驱动电路及其劣化侦测方法,其中,像素驱动电路包括发光器件、驱动晶体管、数据写入晶体管、存储电容、侦测模块和侦测控制模块,驱动晶体管控制流经发光器件的驱动电流,数据写入晶体管根据扫描线输入的扫描信号写入数据信号;侦测模块根据扫描信号侦测驱动晶体管的源极电位;侦测控制模块根据第一电源线控制驱动晶体管的源极电位;侦测线通过第一开关与复位线连接,并通过第二开关与外部采样模块连接;本申请能够减小驱动的面板中goa电路的尺寸,从而有利于制作窄边款或无边框产品。

技术研发人员:麦超晃
受保护的技术使用者:tcl华星光电技术有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/2/8
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